摘要：电气试验过程中经常会忽略屏蔽问题，不利于电气试验效果。本文主要针对电气试验过程中常见的集中问题进行分析，并在此基础上就如何做好屏蔽以及试验管理工作，谈一下个人的观点与认识，以供参考。
关键词：电气设备；试验影响因素；屏蔽问题；对策
电气试验过程中为了能够有效消除测量误差和实践中存在的问题，应当尽可能避免试验过程中的误操作以及误判现象发生，尤其是利用先进的科学技术手段和设备来提高电气屏蔽效率。
一、绝缘电阻试验过程中的屏蔽问题与对策
实践中可以看到，因试验品的表面通常有污渍，电阻试验过程中污渍的存在会影响试验结果，导致其产生一定的误差。绝缘电阻试验过程中，试验品作为可出现的场合多数情况下其表面有污渍。在试验初期阶段，采用屏蔽法消除上述污渍，则会出现误差，因此需先用兆 欧表对其标准值进行测量，然后再用屏蔽法测量以及试验操作，这样才能真实可靠地反映出实验数据。对于绝缘电阻试验而言，其基本原理是先利用裸铜线将试验品缠绕起来，然后再将兆欧表端子连接起来，最后利用标字母方式将回路中的试验品体积以及兆欧表测量值等明确标示出来。在测量试验品时，由于其表面电流不经过试验品两测量机构，因此其表面污渍对实验结果的影响就会消除掉；实践中，即便是屏蔽掉了其他区域表面电流，也会导致测量结果出现误差。因试验品上经过的电流以及测量端通过的电流从一端到另一端，容易产生误差问题。实践中可以看出，若将屏蔽环置于离装设越近处，则从该点到其他点的表面电流越小。
然而，实践中屏蔽环往往被布设在距端点较近处，究其原因主要是因为屏蔽环间连接点均为高电位，而且电压差较小；如果两点绝缘效果都比较理想，则电流值误差相对较小。由于屏蔽环处于高电位，若屏蔽环接近一端，则另一端会产生其他两点压力差低于一边两点的压力差的现象，以致于两点之间的电流过大，此时屏蔽会降低兆欧表电压。在装设屏蔽环时，应当确保其位置适合，以此来有效减小误差和影响。值得一提的是，虽然屏蔽可有效避免外电场影响，但是这种屏蔽具有相对性；在当前的测量环境条件下，其他电气设施依然高电压运行，因此会对试验结果造成不利影响，试验结果出现误差。针对这一问题，建议利用屏蔽法进行处理，比如利用避雷器等来减小或者避免外界因素的影响，在绝缘电阻试验过程中，接地线电压为零时，避雷器屏蔽电位，这有利于避免外界各种因素来干扰和影响测量结果。
二、直流泄漏试验在回路接引线时屏蔽问题与对策
高压与低压侧接是测量过程中试验品泄漏，在对微安表进行接线时主要有两种情况。若将在A-B处连接，则此时可能会出现微安表、变压连线处变化较小，以致于整个过程处于循环状态。换言之，导线之间重复，微安表通过的电流值为零，在该段连接引线位置无需采用屏蔽法。同时，还有其他情况，即除连线外两点之间连接线变化，循环作业过程中会在A-B处多设置微安表的状况，以致于测量结果受到影响。此时，若在A处装设屏蔽线，则屏蔽线中的芯线作用就会连接成回路，以致于引线上的电流不经该微安表，高压引线影响也因此而消除。如果屏蔽线设置在B处，则屏蔽线的作用就会丧失，因此而造成的影响就会消失。 此时若微安表不装设在A-B连接位置，而是其他两个点位置，则无需采用屏蔽法屏蔽该连线处，而是在其他两端点屏蔽。需要注意的是，屏蔽层应当连在共同点之上，以此来确保其作用的有效发挥。由此可见，微安表装设在哪两点连接位置，屏蔽高压线就会越短，而且对测量影响也愈小，甚至可以产生全屏蔽状态。
实践中，若微安表布设在其他两点连接位置，则回路无需屏蔽线，究其原因，主要是因为形成的回路是高压引线所致，电流不经过此处微安表。
期刊文章分类查询,尽在期刊图书馆在此过程中，其他引线与高压引线之间也会形成电晕电流，而且通过微安表，实践中需采用屏蔽线用于其他电路上；然鹅人，此时又会有新的电晕电流产生，主要是因为屏蔽线的利用连接别点时高压引线向地面时会形成电晕电流，并且通过微安表；与前述两个点位置相同，必然会影响到测量结果。实践中，如果利用其他线进行连接，则会导致连线向任意点连接，屏蔽作用失效；即便对其进行了正确的连接操作 也会因电晕电流而导致微安表的应用效果降低 事实上，微安表连接方式有四种情况，尤其以上述两种情况下的连接方式所产生的测量误差最大。实践中为了能够有效消除上述情况造成的误差，笔者建议优选该连接模式。
三、试验品面层泄露屏蔽问题与对策
电气试验操作过程中，基于对试验品表面泄露屏蔽以及相关问题的考虑，应当保持严谨的态度，而且要进行全面考虑。究其原因，主要是因为在电气试验过程中应当注意测量误差的消除，为了能够有效避免试验误判，尤其是以现阶段的科学技术水平和设施平台等条件而言，试验过程中难免会受到外界因素的影响与干扰。即便可以有效排除外界各种因素的影响，实践中还应当充分考虑其内部各种元件的影响与干扰因素。事实上，上述各种不确定因素之间环环相扣，彼此之间存在着非常密切的关联性，因此试验操作过程中应当周全考虑，有备无患。针对试验品的表面出现的泄露问题，如果对其采取有效的屏蔽措施，则可以减小测量过程中的影响和测量结果误差。比如，利用铜线将试验品缠绕起来，即可屏蔽因泄露而造成的不利影响。由于微安表连接方式不同，因此实践中可选用以下两种屏蔽方法。
第一，高电位屏蔽法。若使用屏蔽环与其中一点进行连接，则会形成高电位；若与其他点相连接，就会产生等电位。基于此，采用该种方式可使试验品上部分表面屏蔽。如果采用与之相反的方法进行连接，则会导致试验品的表面泄露变大，而且其下半部分的电压差也会随之变大，同时也会导致电流无法通过微安表。从整体效果来看，采用该种方法无法从根本上有效消除测量影响，而且形成的回路也会循环电流；此处若试验品处于高压状态，则屏蔽环与另一端接近时，表面放电会导致试验品受损严重，而且其表面绝缘也会遭到损坏。针对这一情况，笔者认为应当将屏蔽环、屏蔽层之间有效连接在一起，使其线与试验品之间起到屏蔽作用。
第二，低电位屏蔽法。实践中可以看到，屏蔽环因微安表连接在其他两点时与另外点相连接，所以导致试验品屏蔽环无法泄露，此时蔽环的上半部会产生较大的空间；该种情况下，微安表上表面电流若因屏蔽而被过滤，则仅体积电流经过微安表。然而，微安表在不同的两点之间连接，则其结果与之前相同，主要是因为表面泄露不经过微安表所致。在利用低电位屏蔽法时，建议将微安表布设在高压位置，以此来有效减小其表面所的泄露。
结束语
总而言之，在电气试验过程中如果受到了外界的各种影响干扰，则其结果必然会与实际情况有所差异，为此在实验过程中应当与实际情况以及周围的环境条件结合起来，有效解决好实验屏蔽问题，及时发现和有效处理来自于外界和内部的各种影响因素和问题，这样才能有效提高电气实验质量和效率。
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论文作者:叶斯浩
论文发表刊物:《基层建设》2019年第1期
论文发表时间:2019/3/29
标签：屏蔽论文; 试验品论文; 电流论文; 过程中论文; 测量论文; 误差论文; 表面论文; 《基层建设》2019年第1期论文;