摘要:本文基于功率半导体器件服从Weibull 分布规律的特点,对机车应用现场收集到的IGBT可靠性数据采用中位秩法进行分析和处理,借助最小二乘法获取Weibull 分布模型参数,并通过拟合优度检验,验证了选择 Weibull 分布为数据分析基础的合理性,最终通过建立的Weibull分布函数模型,获得了IGBT可靠性特征量,为IGBT的可靠性定量分析提供了一种可行的方法。
关键词:IGBT;Weibull分布;中位秩法;可靠性
一、引言
IGBT作为变流装置的主功率器件,近年来已被广泛应用于诸多关键领域,如机车牵引、高压输电、新能源发电等。随着IGBT的大批量投入使用,其可靠性问题也日益引起关注[1]。
可靠性是产品在规定的时间内和规定的条件下,完成规定功能的能力,而这种能力的表示通常归结于一个概率值[2]。如果对产品的可靠性只进行一般意义上的定性分析,则远不能满足工程需求,必须进行可靠性的定量分析,只有给出可靠性的各种定量表示后,才有可能对产品的可靠性提出明确而统一的要求。可靠性数据分析就是从这个角度进行研究。
在可靠性数据分析方面,Weibull分布成为近年来研究最为广泛的模型之一,最初是用于材料疲劳分析,后来扩展到许多工程应用领域。本文基于Weibull分布,对IGBT在应用于机车变流装置中的可靠性数据展开研究,实现对IGBT的可靠性分析。
二、浴盆曲线
失效率是可靠性工程中一个及其重要的概念,它是描述产品可靠性规律的最主要数量指标之一[2]。通常产品的失效率是随时间变化的函数,它大致分为早期失效、偶然失效、耗损失效三个阶段。图1反映了产品在全寿命周期内的失效分布,因其整体形状酷似浴盆,简称为浴盆曲线。功率半导体器件的失效率通常也服从浴盆曲线。
图1 产品的失效率曲线
三、Weibull分布
1.Weibull分布定义
1939年瑞典物理学家威布尔首先提出Weibull分布并将其应用于疲劳试验,1956年利布林、泽林等人在滚珠轴承的疲劳试验中及在电子管的寿命试验中使用Weibull分布[1]。近年来,Weibull分布已逐渐成为可靠性分析中使用较为广泛的一种寿命模型。
双参数Weibull分布的分布函数为
(t≥0)) (1)
分布密度函数
(2)
可靠度函数为
(3)
失效率函数为
(4)
式中,t代表时间;α代表尺度参数,m代表形状参数;α参数起到放大或缩小坐标尺度的作用;m参数决定着产品的不同失效阶段: m<1时,代表早期失效,失效率函数随时间递减;m=1时,代表偶然失效,失效率函数随时间变化基本恒定;m>1时,代表耗损失效,失效率函随时间递增,产品进入与老化有关的快速损耗期。
2.Weibull分布参数的最小二乘估计
最小二乘估计法是计算Weibull分布参数较为常用的一种数值分析法,属于点估计的范畴,它可以简便的求出线性函数(通常称为线性回归)中的未知参数。
对式(1)整理可得
(5)
两边取自然对数,得
(6)
令 (7)
则式(7)化为
(8)
假设可靠性寿命试验的样本数量为,当失效样本数为时停止试验,失效样本的寿命时间分别为 5555,其中对应的累积失效概率未知,可以用近似中位秩的方法去估计[3]。
(9)
其中为样品总数,为样品失效数,表示第个故障序号。
对于线性回归方程(8)式,回归系数,的最小二乘估计解为
(10)
则
(11)
3.Weibull分布的检验
分布检验是通过试验或现场使用得到的统计数据,推断产品寿命是否服从初步整理分析所选定的分布,推断的依据是拟合优度检验[3]。通用的拟合优度检验有皮尔逊X2 检验和柯尔莫哥洛夫检验,威布尔分布则有专门的检验方法—F检验。
设产品的寿命分布为F(t),要检验假设H0:
为检验此假设,从产品中任意取n个进行寿命试验,到有r个失效时停止试验,失效时间依次为t1≤t2≤…≤tr,r≤n。设则在原假设H0成立下,x1≤x2≤…≤xr为极值分布的前r个顺序统计量,Z1≤Z2≤…≤Zi是标准极值的前r个顺序统计量,可查表获得。
四、可靠性分析
1.Weibull分布模型的建立
HX某型机车变流器模块发生IGBT的故障具有随机特性,收集了某厂家的IGBT在新上线运行机车变流模块的上可靠性数据,其中IGBT首次失效时间有(故障数据)15个,ti代表失效时间,利用近似中位秩公式计算经验分布函数,如表1。
表1 中位秩公式计算的经验分布函数
在X-Y坐标系中描述经过变化得到的15个点(xi,yi),如图1,图中15个点近似呈直线状,依据最小二乘法的原理,拟合近似中位秩的最小二乘回归直线,并对拟合直线的回归系数进行计算。
图1 近似中位秩公式的最小二乘拟合图
解得拟合回归直线的回归系数为A= 0.7582 ,B=-0.517,关系数R=0.9687,根据式(11),得到Weibull分布参数形状参数m=0.7582,尺度参数 =1445.8;由于m<1,可判断此厂家该批IGBT的失效阶段式为早期失效。
2.拟合优度检验
建立检验假设H0:IGBT器件寿命分布服从Weibull分布,累计分布函数如式(13),F检验的计算结果如表2所示。
表2 Weibull检验的F检验法检验计算
取1=[15/2]=7,根据i值,可计算W的观测值,即
如果取显著性水平=0.10,查F分布表可得检验临界值,。
因为,<,所以接收原假设H0,该批IGBT的寿命分布服从Weibull分布。
3.可靠性特征量计算
HX某型机车某厂家IGBT器件首次失效时间的两参数Weibull分布函数为:
(13)
分布密度函数
(14)
可靠度函数为:
(15)
失效率函数为:
(16)
失效率曲线如图2所示:
图2 IGBT的失效率曲线
可以看出,失效率随时间增长呈下降特性,符合早期失效特征。
结论
本文根据HX机车应用现场收集到的IGBT故障数据,建立Weibull 分布模型,借助最小二乘法对分布函数进行线性化处理,利用中位秩法,求得累积分布函数,得出了IGBT的可靠性特征量,实现了IGBT的可靠性分析,并通过 F 检验法实现分布的拟合优度检验,结果表明IGBT的寿命分布服从 Weibull分布。
参考文献
[1]刘文业,李冬蕾,李彦涌.轨道牵引用IGBT过程质量评估方法与系统[J].2017(1):9-10.
[2]赵宇.可靠性数据分析[M].北京:国防工业出版社,2011:1-2.
[3]房学明.基于Weibull分布的小型气缸可靠性分析.成都:电子科技大学,2011:39-40.
作者简介
王丽萍(1991-03),女,汉族,籍贯:甘肃省兰州市,职位:可靠性工程师,职称:助理工程师,学历:本科,研究方向:IGBT可靠性研究。
论文作者:王丽萍
论文发表刊物:《电力设备》2019年第5期
论文发表时间:2019/7/24
标签:可靠性论文; 函数论文; 参数论文; 寿命论文; 产品论文; 小二论文; 机车论文; 《电力设备》2019年第5期论文;