张郴莉[1]2001年在《双脉冲电流作用下氧化锌电阻冲击老化破坏机理的研究》文中研究说明雷电的多重闪击对雷电过电压保护器件的影响更加严重,本文首次采用不同间歇时间双脉冲电流冲击对氧化锌电阻进行了多次试验,试验表明:氧化锌电阻在双脉冲电流冲击下更容易出现老化破坏现象,间歇时间越短,电阻能耐受的冲击次数越少;此外,直流U_(1mA)值随冲击次数的增加具有快一慢一快的下降过程。微观结构不均匀,包括晶界层特性的不均匀和电极的突出,是导致氧化锌电阻微观破坏的主要原因。本文首次建立了晶界势垒高度与伏安特性参数之间的关系,提出了陷阱效应在冲击老化过程的作用模型,引入了“临界陷阱电荷密度”的概念。本文还指出冲击过程中的离子迁移一方面使电阻的直流U_(1mA)值下降,另一方面使电阻在中、高电场下等效阻值增加,使电阻在完全破坏前能承受一定次数的冲击。最后建立了两套模拟计算模型,通过计算解释了试验数据和现象。 本文的工作和结论有助于进一步研究氧化锌电阻在多脉冲电流作用下的冲击老化破坏机理,另外也为修改我国氧化锌电阻的雷电流试验标准提供理论依据,并为改进氧化锌电阻生产和提高产品质量提出了建设性意见。
张郴莉, 张适昌[2]2001年在《ZnO的双脉冲电流冲击老化破坏试验》文中指出研制了一个双脉冲电流冲击试验装置 ,对氧化锌非线性电阻进行在双脉冲电流作用下的老化破坏试验 ,分别考察了电阻的老化破坏特性与冲击次数 n、双脉冲间隔时间 Δt的关系 ,指出在双脉冲电流冲击下 ,电阻更易发生击穿破坏
参考文献:
[1]. 双脉冲电流作用下氧化锌电阻冲击老化破坏机理的研究[D]. 张郴莉. 中国科学院电工研究所. 2001
[2]. ZnO的双脉冲电流冲击老化破坏试验[J]. 张郴莉, 张适昌. 高电压技术. 2001