• X荧光现场测量的有关技术研究

    X荧光现场测量的有关技术研究

    吴允平[1]2000年在《X荧光现场测量的有关技术研究》文中研究表明能量色散X荧光分析技术是一种重要的核分析技术。论文瞄准国内外能量色散现场X荧光仪的发展趋势,结合现场工作的特点,针对目前现场X荧光分析工作中存在的问题如灵敏度低、检出限差、测定元素有限等问题,在激发源、探测器、测量电路、仪器的微机化...