emmc论文

李奕[1]2004年在《FLASH测试器的设计与实现》文中研究说明在生产测试过程中,需要对芯片进行各种测试。一旦测试出现问题,很可能要对单颗微处理器进行详细的分析和测试。市场上现有的普通编程器不足以满足测试的需求,而大型测试器器主要用于成批芯片的成组测试,用来测试单颗微处理器在使用上非常复杂,而且浪...