寄生电容论文

魏洪川[1]2003年在《超大规模集成电路中寄生电容的提取和快速解法研究》文中提出近年来,随着深亚微米工艺的发展,互连寄生效应已成为制约电路延迟、功耗以及可靠性等多项性能的重要因素。因此,在高性能的超大规模集成电路设计中,一个快速精确的互连寄生参数提取工具具有关键意义。本文针对在多介质寄生电容提取中...