模拟电路论文

一、用普通万用表测RL串联电路的功率因数（论文文献综述）刘磊[1]（2020）在《用于气体放电的多路组合开关电源研究》文中指出电弧等离子体是目前国内外的研究热点之一,本论文以产...

一、数字万用表与模拟万用表的比较研究（论文文献综述）宗爱芹[1]（2020）在《基于机电专业的提高理实一体化教学质量的探讨》文中研究说明理实一体化教学,对教师教学计划的编制、实...

曾一杰[1]2004年在《模拟集成电路布局方法研究》文中研究说明随着集成电路制造工艺进入深亚微米时代,数模混合系统和片上系统日益成为集成电路设计的主流趋势,模拟集成电路版图设计也日益受到重视。布局是集成电路版图设计中的一个重要步骤。本文主要研究模拟集成电路的布局方法以及布局算法。本文提出了一种信号流...

李俊[1]2004年在《快速小波配置方法在大规模集成电路中的应用》文中提出随着高速大规模集成电路(VLSI)发展，对电路模拟方法的计算速度和稳定性提出了新的挑战，采用传统时间步进的积分方法求解大规模电路时，积分误差随模拟时间增加逐渐积累，误差分布不均匀，并且很难处理电路信号的奇异性，为此本文提出了快...

张斌[1]2003年在《半导体器件分布式模拟系统的设计》文中研究说明概述了半导体器件模拟软件的发展现状，分析了半导体器件的模型，研究了半导体器件模拟的基本方法和典型过程，分析了半导体器件发展的要求和几种器件模拟计算方式的比较及分布式器件并行模拟系统的必要性、可行性和现实意义。详细阐述了半导体器件数值...

张开锋[1]2014年在《数字演化硬件与容错技术研究》文中指出随着信息技术的飞速进步及其应用范围的不断拓展,对任务和环境的自适应、复杂功能集成、多场景应用集成,已成为现代电子系统的重要发展趋势。将演化思想引入电子系统的设计和工作过程中,为构建具有自适应、自修复能力的电子系统开辟了一个全新的研究领域—...

肖志强[1]2011年在《SOI器件电离总剂量辐射特性研究》文中指出SOI(Silicon-on-insulator)技术已经得到了广泛应用,被国际上公认为“二十一世纪的硅集成电路技术”,抗辐射领域是SOI技术最初、最重要的应用领域,依然保持着持续的发展。本文对低压SOICMOS、高压SOICMOS...

陈骥[1]2001年在《基于RTL描述的组合电路自动测试生成技术研究》文中研究说明集成电路设计已经广泛使用HDL硬件描述语言作为输入，RTL（寄存器传输级）电路描述介于行为描述和逻辑门级描述之间，既具有电路功能的信息，又能体现电路具体结构实现，这使得基于结构的电路测试方法有可能在RTL级进行推广或改...

牟维兵[1]2001年在《不同材料界面剂量增强的理论研究》文中研究说明X射线或低能γ射线射入原子序数不同材料的界面时，在靠近界面的低原子序数材料区会产生剂量增强。因为低能γ射线在原子序数不同材料中的光电效应截面相差很大，高Z材料中产生的光电子浓度远远大于低Z材料，其通过界面进入低Z材料的光电子也远远...

姚志江[1]2001年在《异步时序电路测试生成研究》文中研究指明相对于同步时序电路,异步时序电路在功耗、模块化、性能和电磁兼容等方面有比较大的优势。目前,在异步时序集成电路的设计技术的研究和异步时序集成电路的设计上已经进行了不少有益的尝试,取得了不少成果,展现了异步时序集成电路的光明前景。然而,高效...

余小明[1]1998年在《数字电路时滞可测试性设计研究》文中指出对数字电路日趋提高的可靠性要求和高性能要求，使得人们不仅要保证数字电路逻辑功能的正确性，还要不断提高数字电路的逻辑运算速度。时滞测试是保证高速数字电路时间特性正确性的一项关键技术，因而越来越引起人们的重视。本文就数字电路的时滞可测性和可...

高燕[1]2003年在《基于寄存器传输级层次模型的测试生成研究》文中认为集成电路(IntegratedCircuit,简称IC)的设计验证和测试是确保数字系统正常工作的必要手段。无论是设计验证还是芯片测试,测试生成都作为其主要内容而被广泛关注。本文首先综述了集成电路的测试和设计验证的基本原理和方法;...

王仲[1]1998年在《时序电路测试产生中一些关键技术的研究》文中认为测试费用在芯片成本中所占的比重越来越大。随着当今VLSI电路规模的增大和密度的提高，对电路的测试产生变得十分困难。虽然可测性设计技术的采用使某些电路测试产生变得相对容易，但完全扫描电路设计也造成了芯片面积的增大和芯片性能的下降。更...