内存时序论文

同步时序电路故障模拟系统的设计与实现
高燕[1]2003年在《基于寄存器传输级层次模型的测试生成研究》文中认为集成电路(IntegratedCircuit,简称IC)的设计验证和测试是确保数字系统正常工作的必要手段。无论是设计验证还是芯片测试,测试生成都作为其主要内容而被广泛关注。本文首先综述了集成电路的测试和设计验证的基本原理和方法;...