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ValueatRisk模型及其在香港股市中的实证分析，本文主要内容关键词为：实证论文,模型论文,股市论文,在香港论文,Risk论文，此文献不代表本站观点，内容供学术参考，文章仅...

AnAcidTestByLanXinzhenWhilemeetingthepressafterthe11throundofChina-U.S.high-leveleconomi...

美国大学入学考试SAT的变迁——基于社会历史与意识形态视角的分析，本文主要内容关键词为：意识形态论文,入学考试论文,视角论文,美国大学论文,社会论文，此文献不代表本站观点，内容...

李锐[1]2005年在《低功耗内建自测试设计方法研究》文中研究说明集成电路工艺的进步和电路规模扩大带来的测试挑战,要求越来越多的芯片包含内建自测试(BIST)电路。但由于自测试的测试向量之间相关性非常低、为缩短测试时间而采取的并行测试策略会破坏电路的低功耗结构和功耗管理方案,导致了测试模式下芯片的功...